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1[국회직 9급 전자공학개론] 18년 1회차
다음 그림과 같은 공통 이미터(Common Emitter) 증폭기에서 바이패스(bypass) 커패시터(C2)의 고장에 대한 영향으로 옳지 않은 것은?
1
커패시터 C2가 개방(open) 고장이면 온도에 대한 안정도는 증가한다.
2
커패시터 C2가 개방(open) 고장이면 전압이득은 증가한다.
3
커패시터 C2가 단락(short) 고장이면 전압이득은 변하지 않는다.
4
커패시터 C2가 단락(short) 고장이면 직류컬렉터전류(IC)는 증가한다.
5
커패시터 C2가 단락(short) 고장이면 교류입력저항(Rin(base))은 변하지 않는다.
해설
옳지 않은 것은 개방 고장이면 전압이득이 증가한다는 설명이다.
는 를 교류적으로 단락한다. 개방되면 가 교류 부귀환에 더해져 전압이득은 오히려 감소한다.
반대로 단락되면 교류 등가회로는 정상일 때와 같고, 직류 이미터 저항만 으로 줄어든다.
- 개방 시 온도 안정도 증가: 이득이 온도에 민감한 보다 외부 저항에 좌우되므로 옳다.
- 단락 시 전압이득 불변: 정상일 때도 는 교류 단락이므로 교류 등가회로의 구성이 같아 옳다(바이어스 변화에 따른 변화는 무시).
- 단락 시 직류 컬렉터 전류 증가: 직류 이미터 저항이 줄어 가 커지므로 옳다.
- 단락 시 교류 입력저항 불변: 베이스에서 본 교류 이미터 쪽 회로 구성이 정상일 때와 같으므로 옳다( 변화는 무시).
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