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1[통신설비기능장 필기] 12년 1회차
다음과 같은 PCM 특유의 잡음 중 표본화 과정에서 얻어진 PAM 신호의 순시 진폭값을 설정된 이산적인 신호로 변환시키는 과정에서 발생하는 잡음은?
1
표본화 잡음
2
과부하 잡음
3
양자화 잡음
4
플리커 잡음
해설
PCM(펄스 코드 변조) 시스템에서 양자화 잡음은 표본화된 PAM 신호의 연속적인 진폭값을 제한된 이산 레벨로 근사화할 때 발생하는 오차다. 표본화 과정 후 얻어진 PAM 신호의 순시 진폭값이 양자화 레벨과 정확히 일치하지 않으면 그 차이가 양자화 잡음으로 나타난다. 표본화 잡음은 나이퀴스트 정리를 위반할 때 발생하고, 과부하 잡음은 입력 신호가 양자화 범위를 초과할 때 생기며, 플리커 잡음은 반도체 소자의 특성에서 나오는 현상으로, 모두 양자화(레벨 결정) 단계의 본질적 특성인 양자화 잡음과는 다르다.
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