건(Gunn) 다이오드에서 부성저항이 생기는 원인은? | [전자기사 필기] 22년 2회차 기출문제 상세 페이지

건 다이오드의 부성저항은 유효질량의 전압 의존성 때문에 생긴다.
전계가 임계값을 넘으면 전자가 낮은 에너지 밸리에서 높은 밸리로 옮겨 가고, 높은 밸리에서는 유효질량이 커져 이동도가 감소한다. 그래서 전압을 높일수록 전류가 줄어드는 구간이 생긴다.
나머지 보기는 다음 이유로 옳지 않다.
캐리어 농도의 전압 의존성이라는 보기는 틀리다. 밸리 간 전이는 캐리어 수가 아니라 유효질량과 이동도를 바꾼다.
캐리어 농도의 온도 의존성이라는 보기는 틀리다. 이 부성저항은 온도가 아니라 전계(전압)에 의한 현상이다.
유효질량의 온도 의존성이라는 보기는 틀리다. 이 부성저항은 온도가 아니라 전계(전압)에 의한 현상이다.