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1[7급 국가직 소프트웨어공학] 24년 1회차
다음과 같은 모듈 계층 구조를 가진 시스템의 테스팅을 수행하는 과정에 대한 설명으로 옳은 것만을 모두 고르면?
(가) 하향식 기법의 통합 테스팅은 모듈 A부터 시작한다.
(나) 빅뱅 테스팅을 수행하기 위해서는 A부터 G까지의 모든 모듈을 한꺼번에 연결하여 테스팅을 수행한다.
(다) 하향식 기법을 수행하기 위해서는 스텁(stub) 모듈이 필요하다.
(라) 상향식 기법을 수행하기 위해서는 드라이버(driver) 모듈이 필요하다.

문제 이미지
1
(가), (나)
2
(다), (라)
3
(가), (나), (다)
4
(가), (나), (다), (라)
해설

제시된 네 설명은 모두 옳다.

모듈 구조는 A 아래에 B·C·D가 있고, B 아래에 E, C 아래에 F·G가 있는 계층이다. 하향식은 최상위 모듈부터 내려가며 아직 없는 하위 모듈을 스텁으로 대신하고, 상향식은 최하위 모듈부터 올라가며 상위 모듈을 드라이버로 대신한다.

  • (가) 하향식 통합은 최상위 모듈인 A부터 시작하므로 옳다.
  • (나) 빅뱅 테스팅은 A부터 G까지 모든 모듈을 한꺼번에 결합해 시험하므로 옳다.
  • (다) 하향식에서는 호출될 하위 모듈이 아직 없으므로 이를 흉내 내는 스텁이 필요하다.
  • (라) 상향식에서는 하위 모듈을 호출해 줄 상위 모듈이 없으므로 테스트 드라이버가 필요하다.

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