다음 중 성능이 좋고 여러 비트에서 발생하는 집단오류도 검출 가능한 방… | [정보기기운용기능사 필기] 10년 3회차 기출문제 상세 페이지
1[정보기기운용기능사 필기] 10년 3회차
다음 중 성능이 좋고 여러 비트에서 발생하는 집단오류도 검출 가능한 방식은?
1
패리티 검사(Parity Check)
2
전진 에러 수정(FEC)
3
블록합 검사(BSC)
4
순환 잉여 검사(CRC)
해설
여러 비트에 걸쳐 발생하는 집단(버스트) 오류까지 효과적으로 검출할 수 있는 성능 좋은 오류검출 방식은 순환잉여검사(CRC)이다.
다항식 나눗셈의 나머지를 이용해 오류를 검출하므로 단순 패리티 방식보다 검출 성능이 뛰어나다.
- 패리티 검사는 단일 비트 오류 검출에 적합할 뿐 집단 오류 검출력은 낮다.
- 전진 에러 수정(FEC)은 오류 검출뿐 아니라 수신측에서 자체적으로 오류를 정정하는 방식이다.
- 블록합 검사(BSC)는 CRC보다 검출 성능이 낮은 방식이다.
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