단색 X-선 빛살의 광자가 K-껍질 및 L-껍질의 내부전자를 방출시켜 스펙트럼을 얻음으로써 상세 페이지

단색 X-선 빛살의 광자가 K-껍질 및 L-껍질의 내부전자를 방출시켜 스펙트럼을 얻음으로써 시료원자의 구성에 대한 정보와 시료구성 성분의 구조와 산화상태에 대한 정보를 동시에 얻을 수 있는 전자스펙트럼법은?

Auger 전자분광법(AES)

X-선 광전자분광법(XPS)

전자에너지 손실 분광법(EELS)

레이저마이크로탐침 질량분석법(LMMS)