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1[화학분석기사 필기] 15년 2회차
단색 X-선 빛살의 광자가 K-껍질 및 L-껍질의 내부전자를 방출시켜 스펙트럼을 얻음으로써 시료원자의 구성에 대한 정보와 시료구성 성분의 구조와 산화상태에 대한 정보를 동시에 얻을 수 있는 전자스펙트럼법은?
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Auger 전자분광법(AES)
2
X-선 광전자분광법(XPS)
3
전자에너지 손실 분광법(EELS)
4
레이저마이크로탐침 질량분석법(LMMS)
해설
단색 X-선을 시료에 조사해 K, L 껍질 등 내부 전자를 광전효과로 방출시키고, 방출된 광전자의 운동에너지를 측정해 결합에너지를 구하는 방법이 X-선 광전자분광법(XPS)이다. 결합에너지는 원소의 종류뿐 아니라 그 원소가 놓인 화학적 환경(산화상태, 결합 구조)에 따라 미세하게 이동하므로, 원소 조성과 산화상태·구조 정보를 함께 얻을 수 있다.
Auger 전자분광법은 내부껍질 빈자리가 채워질 때 튀어나오는 오제 전자를 이용하고, 전자에너지 손실 분광법은 전자빔이 시료를 지나며 잃은 에너지를 분석하며, 레이저마이크로탐침 질량분석법은 레이저로 만든 이온을 질량으로 분석하는 방법이어서, X-선 광전자를 직접 이용하는 XPS와는 원리가 다르다.
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