모두CBT
질량분석법을 응용한 2차 이온 질량분석법(SIMS)에 대한 설명으로 틀린 것은?
고체 표면의 원자와 분자조성을 결정하는데 유용하다.
동적 SIMS는 표면 아래 깊이에 따른 조성 정보를 얻기 위하여 사용된다.
통상적으로 사용되는 SIMS를 위한 변환기는 전자증배기, 패러데이컵 또는 영상검출기이다.
양이온 측정은 가능하나 음이온 측정이 불가능한 분석법이다.
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