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1[화학분석기사 필기] 19년 1회차
질량분석법을 응용한 2차 이온 질량분석법(SIMS)에 대한 설명으로 틀린 것은?
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고체 표면의 원자와 분자조성을 결정하는데 유용하다.
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동적 SIMS는 표면 아래 깊이에 따른 조성 정보를 얻기 위하여 사용된다.
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통상적으로 사용되는 SIMS를 위한 변환기는 전자증배기, 패러데이컵 또는 영상검출기이다.
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양이온 측정은 가능하나 음이온 측정이 불가능한 분석법이다.
해설
SIMS는 양이온 측정만 가능하고 음이온 측정은 불가능하다는 설명이 틀렸다.
SIMS는 일차 이온 빔으로 고체 표면을 스퍼터링하여 방출되는 2차 이온(양이온 또는 음이온)을 질량분석기로 검출하는데, 측정 대상에 따라 양이온 모드와 음이온 모드를 모두 선택하여 사용할 수 있다.
- 고체 표면의 원자·분자조성 결정 — SIMS의 기본 응용 분야로 맞는 설명이다
- 동적 SIMS의 깊이 프로파일링 — 연속적인 스퍼터링으로 표면 아래 깊이에 따른 조성 정보를 얻는 올바른 설명이다
- 변환기(전자증배기 PMT·MCP, 패러데이컵, CCD/CMOS 영상검출기) — 실제로 사용되는 검출기이므로 맞는 설명이다
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