고체표면의 원소 성분을 정량하는데 주로 사용되는 원자 질량분석법은? | [화학분석기사 필기] 20년 1회차 기출문제 상세 페이지
1[화학분석기사 필기] 20년 1회차
고체표면의 원소 성분을 정량하는데 주로 사용되는 원자 질량분석법은?
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양이온 검출법과 음이온 검출법
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이차이온 질량분석법과 글로우 방전질량분석법
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레이저 마이크로탐침 질량분석법과 글로우 방전 질량분석법
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이차이온 질량분석법과 레이저 마이크로탑침 질량분석법
해설
이차이온 질량분석법(SIMS)과 레이저 마이크로탐침 질량분석법은 이온빔이나 레이저로 고체 표면을 직접 때려 튀어나온 이온을 질량 분석하므로 표면 원소 정량에 쓰인다. 글로우 방전 질량분석법은 시료를 계속 스퍼터링해 내부(벌크) 조성을 재는 방법이다.
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