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1[폐기물처리기사 필기] 20년 2회차
환원기화법(원자흡수분광광도법)으로 수은을 측정할 때 시료 중에 염화물이 존재할 경우에 대한 설명으로 옳지 않은 것은?
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시료 중의 염소는 산화조작 시 유리염소를 발생시켜 253.7nm에서 흡광도를 나타낸다.
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시료 중의 염소는 과망간산칼륨으로 분해 후 헥산으로 추출 제거한다.
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유리염소는 과량의 염산하이드록실 아민 용액으로 환원시킨다.
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용액 중에 잔류하는 염소는 질소가스를 통기시켜 축출한다.
해설
수은을 환원기화법(원자흡수분광광도법)으로 측정할 때 시료 중에 염소이온이 존재하면 산화 조작 과정에서 유리염소가 발생하여 253.7nm 부근에서 흡광도를 나타내는 방해작용을 한다.
이 방해를 없애려면 과량의 염산히드록실아민 용액으로 유리염소를 환원시키고, 용액 중에 남은 염소는 질소가스를 통기시켜 축출하는 절차를 거친다.
과망간산칼륨으로 분해한 뒤 헥산으로 추출하여 제거한다는 설명은 실제 시험 절차와 다르므로 옳지 않다.
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