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1[수질환경기사 필기] 25년 1회차
유도결합플라스마-질량분석법(ICP-MS)으로 수중 금속류를 분석할 때 발생하는 간섭에 관한 설명으로 옳은 것은?
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질량 대 전하비로 원소를 검출하므로 동중원소나 다원자이온에 의한 스펙트럼 간섭은 원리상 전혀 발생하지 않아 보정이 필요 없다.
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시료 중의 염화물 등 매트릭스 성분은 시료 도입과 이온화 과정에 영향을 주지 않으므로 물리적 간섭에 대한 보정은 고려하지 않는다.
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아르곤이나 매트릭스 성분이 결합하여 생성된 다원자이온이 분석대상 원소와 같은 질량에서 검출되어 간섭을 일으킬 수 있다.
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내부표준물질을 첨가하면 신호 변동이 오히려 증폭되므로 ICP-MS의 정량에서는 내부표준법을 사용하지 않는 것이 원칙이다.
해설
ICP-MS에서는 플라스마 가스인 아르곤이나 시료 매트릭스 성분이 결합해 만들어진 다원자이온이 분석대상 원소와 같은 질량 대 전하비에서 검출되는 스펙트럼 간섭이 일어날 수 있다. 예를 들어 염화물 매트릭스에서 생성되는 ArCl 이온은 비소 측정을 방해하며, 이러한 간섭은 충돌/반응셀이나 간섭 보정식으로 저감한다.
- 스펙트럼 간섭이 원리상 없다는 설명은 틀리다 — 동중원소·다원자이온 간섭은 ICP-MS의 대표적 간섭이다.
- 매트릭스가 이온화·시료 도입에 영향을 주지 않는다는 설명도 틀리다 — 용존 고형물 등에 의한 물리적 간섭이 있어 희석·매질 일치·내부표준으로 보정한다.
- 내부표준법을 쓰지 않는다는 설명과 달리, 내부표준물질 첨가는 감도 변동과 매트릭스 효과를 보정하는 표준적인 방법이다.
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