모두CBT | 국가고시 실기시험 부시기!

- 광학기기에서 가까이 있는 두 점을 구분할 수 있는 능력

- 파장이 짧을수록 분해능 우수

- 광학현미경 : 빛을 사용하는 현미경

- 전자현미경 : 전자를 사용하는 현미경

- 시험편의 모서리 부분이 평평한 부분보다 더 밝게 보이는 현상

- 가속전압이 클 때 : 분해능 향상, 표면 구조의 선명도 저하, 엣지효과 증가, 빔 손상 증가

- 가속전압이 낮을 때 : 분해능 저하, 표면 구조의 선명도 향상, 엣지효과 감소, 빔 손상 감소

- 시혐편을 이루고 있는 원소의 원자번호에 의한 조성 정보(밝은 부분 - 높은 원자번호, 어두운 부분 - 낮은 원자번호)

- 시험편에 전자빔이 스캔될 때 방출되는 특정 X-선으로부터 원소 조성, 비율, 분포 정보 도출

시험편 컷팅(절단) - 마운팅 - 폴리싱(연마) - 에칭(부식) - 금속 코팅(금속 샘플일 경우 생략 가능)

- Charging 현상 : 비전도성(부도체)시험편에 전자가 축적되어 2차전자 발생을 불안정하게 하여 왜곡된 이미지 형성

- 금속 코팅 필요

- 장점 : 높은 가속전압에 의한 높은 분해능, 원자 단위 구조분석 가능

- 단점 : 시편 준비의 어려움, 2차원적인 조직만 관찰 가능, 타 현미경에 비해 낮은 관찰 범위

- 전자빔이 샘플을 투과해야하기 때문에 매우 얇은 두께 ( 약 100nm 이하)

SEM : 미세한 표면, 단면 형상

TEM : 미세한 내부 결함, 결정구조 및 결정입자

X선을 시험편에 조사하여 재료의 원소 조성, 결정구조 등 분석

브래그 법칙(Bragg's law)

nㅅ=2dsinθ